Προμήθειες: ΙΔΡΥΜΑ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑΣ ΚΑΙ ΕΡΕΥΝΑΣ, ΙΝΣΤΙΤΟΥΤΟ ΕΠΙΣΤΗΜΩΝ ΧΗΜΙΚΗΣ ΜΗΧΑΝΙΚΗΣ

2 αρχειοθετημένες προμήθειες

ΙΔΡΥΜΑ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑΣ ΚΑΙ ΕΡΕΥΝΑΣ, ΙΝΣΤΙΤΟΥΤΟ ΕΠΙΣΤΗΜΩΝ ΧΗΜΙΚΗΣ ΜΗΧΑΝΙΚΗΣ είναι ιστορικά αγοραστής εξοπλισμός εργαστηριακός, οπτικός και ακριβείας (εκτός από γυαλιά), όργανα ελέγχου φυσικών χαρακτηριστικών και όργανα και συσκευές ανίχνευσης και ανάλυσης.

Πρόσφατες προμήθειες από ΙΔΡΥΜΑ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑΣ ΚΑΙ ΕΡΕΥΝΑΣ, ΙΝΣΤΙΤΟΥΤΟ ΕΠΙΣΤΗΜΩΝ ΧΗΜΙΚΗΣ ΜΗΧΑΝΙΚΗΣ

2014-07-29   Μικροσκόπιο ατομικής δύναμης για τη μέτρηση μηχανικών τάσεων με εξαιρετική ακρίβεια (Atomic force microscope capable... (ΙΔΡΥΜΑ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑΣ ΚΑΙ ΕΡΕΥΝΑΣ, ΙΝΣΤΙΤΟΥΤΟ ΕΠΙΣΤΗΜΩΝ ΧΗΜΙΚΗΣ ΜΗΧΑΝΙΚΗΣ)
Αντικείμενο του παρόντος διαγωνισμού είναι η προμήθεια ενός συστήματος «Μικροσκόπιο ατομικής δύναμης για τη μέτρηση μηχανικών τάσεων με εξαιρετική ακρίβεια (Atomic force microscope capable for performing accurate stress measurements)» με τα ακολουθά ελάχιστα τεχνικά χαρακτηριστικά: 1.1. Απαιτούμενες προδιαγραφές συστήματος: 1.1. Το σύστημα να περιλαμβάνει μία απεικόνιση γενικού σκοπού με όλα τα ακόλουθα χαρακτηριστικά: α) Αυτόματη βελτιστοποίηση των κρίσιμων παραμέτρων απεικόνισης, συμπεριλαμβανομένων … Δείτε την προμήθεια »
Αναφερόμενοι προμηθευτές: Bruker AXA SAS
2012-12-19   ΣΥΣΤΗΜΑ ΑΤΟΜΙΚΗΣ ΔΥΝΑΜΗΣ (AFM) ΜΕ ΦΑΣΜΑΤΟΓΡΑΦΟ RAMAN ΓΙΑ ΜΕΤΡΗΣΕΙΣ ΕΝΙΣΧΥΣΗΣ ΑΚΙΔΑΣ (TERS) (ΙΔΡΥΜΑ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑΣ ΚΑΙ ΕΡΕΥΝΑΣ, ΙΝΣΤΙΤΟΥΤΟ ΕΠΙΣΤΗΜΩΝ ΧΗΜΙΚΗΣ ΜΗΧΑΝΙΚΗΣ)
ΑΝΤΙΚΕΙΜΕΝΟ ΤΟΥ ΠΑΡΟΝΤΟΣ ΔΙΑΓΩΝΙΣΜΟΥ ΕΙΝΑΙ Η ΠΡΟΜΗΘΕΙΑ ΕΝΟΣ ΣΥΣΤΗΜΑΤΟΣ ΑΤΟΜΙΚΗΣ ΔΥΝΑΜΗΣ (AFM) ΜΕ ΦΑΣΜΑΤΟΓΡΑΦΟ RAMAN ΓΙΑ ΜΕΤΡΗΣΕΙΣ ΕΝΙΣΧΥΣΗΣ ΑΚΙΔΑΣ (TERS) ΜΕ ΤΗΝ ΕΞΗΣ ΤΕΧΝΙΚΗ ΠΕΡΙΓΡΑΦΗ : ΓΕΝΙΚΑ Ερευνητικό φασματόμετρο RAMAN/ AFM/ NSOM/ TERS με φράγμα διασποράς, ικανό για λήψη φάσματος RΑΜΑΝ, γραφιτικών υλικών και γενικά οργανικών και ανόργανων υλικών. Με τα ακόλουθα ελάχιστα τεχνικά χαρακτηριστικά: Α. ΑΠΑΡΑΒΑΤΟΙ ΟΡΟΙ Οι παρακάτω όροι θεωρούνται απαράβατοι και άμεσος λόγος αποκλεισμού οιουδήποτε … Δείτε την προμήθεια »
Σχετικές αναζητήσεις 🔍
Προϊόντα/υπηρεσίες: Εξοπλισμός εργαστηριακός, οπτικός και... Όργανα ελέγχου φυσικών χαρακτηριστικών Όργανα και συσκευές ανίχνευσης και ανάλυσης Φασματοφωτόμετρα Συσκευές ελέγχου και δοκιμών Μικροσκόπια